X荧光RoHS测试仪定量分析 必须注意的是:x射线荧光光谱分析值提供管制物质以元素形式存在与否的信息。必须特别注意例如Cr以及Br,所得的结果是总Cr和总的Br,而不反映其存在的形式。因此如果存在Cr,Br的时候,六价铬,PBB,PBDE必须使用确认测试程序进行确认。另一方面,如果没有Cr,Br的存在,那么就不可能存在Cr(VI),PBB,PBDE。
分析方法必须小心的执行校正,考虑:光谱干扰,基体效应以及其他影响,其可能影响荧光辐射的强度。 A:Cd,可能受到Br,Pb,Sn以及Sb的干扰 B:Pb:可能受到Br的干扰 C:Hg:可能受到Br,以及Pb的干扰,在样品含有高浓度的Ca,Fe的时候。 D:Cr:受到Cl的干扰 E:Br:可能受到Pb和fe的干扰。
另外样品的厚度对于荧光的强度有影响,特别是在测定Cd的时候。参考样品必须和样品的厚度相同,具有可比性。 总的讲来,XRF是一种比较分析方法,分析结果总是基于分析校正作为RoHS2.0测试仪,可与液相色谱仪(检测RoHS2.0中邻苯二甲酸酯6P、7P)配合使用,组成RoHS2.0整套检测仪器方案。
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